鑄鐵平板平面度誤差的測量方法很多，常用的有如下所列的方法： 

光隙法 

  將被測直線和測量基線間形成的光隙，與標(biāo)準(zhǔn)光隙比較，測量不同方向的若干個(gè)截面上的直線度誤差，取其中最大值，作為平面度誤差近似值的方法。該方法適用于磨削或研磨加工的小平面的鑄鐵平板平面度誤差測量。 

指示器法

  將被測零件支撐在測量平板上，鑄鐵平板工作面為測量基準(zhǔn)，按一定的方式布點(diǎn)，用指示器對被測面上各點(diǎn)進(jìn)行測量并記錄所測數(shù)據(jù)，然后，按一定的方法評定其誤差值。該方法適用于中、小平面的鑄鐵平板平面度誤差測量。 

光軸法

  以幾何光軸建立測量基面，測出被測面相對測量基面的偏離量，進(jìn)而評定鑄鐵平板平面度誤差值的方法，該方法適用于一般精度大平面的鑄鐵平板平面度誤差測量。 

干涉法

  利用光波干涉原理，根據(jù)干涉條紋形狀、條數(shù)，來確定平面度誤差值的方法，該方法適用于精研表面的鑄鐵平板平面度誤差測量。 

三坐標(biāo)測量機(jī)

  三坐標(biāo)測量機(jī)是綜合利用精密機(jī)械、微電子、光柵和激光干涉儀等先進(jìn)技術(shù)的測量儀器，其原理是在三個(gè)相互垂直的方向上，有導(dǎo)向機(jī)構(gòu)、測長元件、數(shù)顯裝置，有一個(gè)能夠放置工件的工作臺，測頭可以以手動(dòng)或機(jī)動(dòng)方式，輕快地移動(dòng)到被測點(diǎn)上，由讀數(shù)設(shè)備和數(shù)顯裝置，把被測點(diǎn)的坐標(biāo)值顯示出來的一種測量設(shè)備。 

除上面介紹的幾種方法外，還有液面法、自準(zhǔn)直儀法等，鑄鐵平板生產(chǎn)廠家常采用光學(xué)合像水平儀測定測量平板的平面度誤差。